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研究室のトータルコーディネーター 
株式会社
テクノサイエンス
理科学機器、分析機器を通じて社会に貢献します。
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FT-IR用反射測定アクセサリ
（各種ATR、角度可変反射、拡散反射、加熱ステージなど）
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ATR（全反射測定）アクセサリ、ダイヤモンドATR、角度可変ATR、加熱ATR、シールド機構付ATR
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クエスト (高感度1回反射/ダイヤモンド水平ATR装置)
Quest ATR Accessory
クエストは、中赤外・遠赤外分光測定用の1回反射型水平ATRアクセサリです。ミラーだけで構成された光学系は、高いスループットと広波数領域を両立させます。また、結晶ディスクは工具不要で簡単に交換することができます。Type
ⅢaダイヤモンドATR結晶は物理的にも化学的にも非常に安定で、気体を除くほとんどの試料を前処理なしで、結晶を損なう心配もなく、簡単に、高感度で測定することができます。現場でのルーチン分析に最適な小型・軽量・低価格でありながら、ラボでの測定にも充分な性能を発揮します。
左の画像をクリックするとクエストATRの紹介動画(英語版)を表示します。(YouTubeへリンク)
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ゴールデンゲート (高感度1回反射/ダイヤモンド水平ATR装置)
Golden Gate Diamond ATR
ゴールデンゲートは、化学的、物理的に安定なType Ⅲaダイヤモンドをエレメント(IRE)として用いた
1回反射型水平ATRアクセサリです。ダイヤモンドは透明度が高く、高屈折率、高熱伝導率といった優れた特性も有します。ゴールデンゲートATRは、微小試料からマクロサンプルまで、気体を除くほとんどの試料を前処理なしに、結晶を損なう心配もなく、簡単で、高感度な測定ができます。さらに豊富なオプションにより、液体窒素温度から、350℃まで、圧力41MPa(6000psi)までの
in-situ 測定が可能です。ルーチン分析から、未知試料の非破壊測定、反応追跡に至るまで幅広いアプリケーションに対応します。
左の画像をクリックするとゴールデンゲートATRの紹介動画(英語版)を表示します。(YouTubeへリンク)
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ゴールデンゲート 加熱ダイヤモンドATRオプション
（300℃空冷または350℃水冷）
一定温度に加熱または昇温しながら試料表面の赤外情報が得られます。試料の熱劣化、熱分解、熱硬化反応等の様々な熱化学反応過程の測定でご利用頂けます。ダイヤモンドは他のプリズムに比べ高い熱伝導性を有しており、室温～350℃（オプション、水冷式）で使用できます。また、ダイヤモンドは酸、アルカリに強い高硬度の炭化タングステン（Tungsuten
Carbide）でマウントされています。シールド加熱ダイヤモンドＡＴＲは嫌気性試料の表面分析用として測定部分を密閉またはガスパージの状態で測定が可能です。水分や酸素を遮断した状態での加熱測定が可能です。加熱トッププレートは光学ベースユニットから簡単に取り外しができますので、グローブボックスなどで嫌気性試料のサンプリングも容易です。
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シールド機構（パージ機構）付ゴールデンゲートATR
二次電池電極材料や嫌気性試料について赤外スペクトルを得ようとする場合、試料をグローブボックス内でサンプリングし、ATR等にセットしますが、そのままでは試料が空気に触れてしまい、試料状態が変わってしまいます。ゴールデンゲートATRはトッププレートを簡単に着脱できる構造です。トッププレートだけをグローブボックス内へ搬入し、試料をセット、密閉した後、FT-IRの試料室で測定を行います。シールド機構付ATRは加熱が可能なダイヤモンドATRや、高屈折率試料の測定にGeプリズムなどがあります。
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シールド機構付 シルバーゲート エボリューション
ATR
スループットの高い一回反射ATR Silver Gate Evolutionは固体、液体試料やゲル状、ペースト状試料等の赤外測定を素早く行えます。シールド機構によりLi-イオン2次電池材料、嫌気性試料のサンプリングを容易にしました。シルバーゲートエボリューションATRはグローブボックスに搬送しやすい小型設計です。高屈折率試料（ゴム等）の測定にはGe結晶プレート、一般試料にはZnSe結晶プレートがあります。結晶プレートの交換はスピーディに行うことができ、面倒な光学調整も不要です。
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ゲートウェイ ＡＴＲ装置 （Gateway ATR System）
最高200℃までの加熱測定プレート、セル容量550μＬのフローセルなど豊富なトッププレートオプションを揃えた多重反射型水平ATRアクセサリです。加熱トッププレートによる水溶液中の蛋白質の熱変性測定、低濃度の溶質、ゼリー状試料、粉体試料の表面測定など高感度に測定が可能です。
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25回反射角度可変ATR （25 Reflection ATR）
標準結晶ホルダーはフィルムやシートなどの固体試料用です。オプションで液体用ホルダー、ペースト用ホルダーがあります。試料ホルダーと結晶アセンブリーは30°から60°の間にセットできますが、結晶の中で25回の内部反射が得られるのは厚さ2mmの結晶を45°に正しくセットされた場合です。片面では12回または13回となります。標準付属の結晶は45°KRS-5です。オプションで各種入射角のZnSe、Ge、Siその他のプリズムをご利用可能です。赤外光は4枚のミラーにより結晶へ入出射させ、それぞれのミラーは角度、傾斜調整などのアライメントが行えます。アクセサリは分光器試料室内の3インチ×2インチ標準透過測定スタンドにセットし使用します。ほとんどのFT-IRでご利用可能です。
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多目的角度可変反射測定アクセサリ シーガル（The
SeagullTM Harrick Scienific）
シーガルは1台で多種類の反射測定が行える多目的の角度可変反射測定アクセサリです。角度可変ATR、角度可変反射、高感度反射、角度可変偏光ATR、液体ATR、角度可変紛体反射、加熱ATR、加熱反射、SEIRASなど様々は反射測定に応用できるユニークで強力なアクセサリです。
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微量液体試料測定用多重反射ATR
ConcentratIR2TM (Harrick Scienific)
一般的なFT-IRをはじめ、より小型なFT-IR（ALPHA、iS5等）の試料室に設置可能な小型の多重反射ATR測定アクセサリーです。
微量（10μL）の液体試料を高感度に測定が可能で、交換可能なダイヤモンドATRプレートとシリコンATRプレートがあります。シリコンATRプレートは入射角30°で11回の内部反射があり、4000～650cm-1の領域が測定可能です。
ダイヤモンドATRプレートは入射角45°で10回の内部反射があり、4000～550cm-1の領域が測定可能です。
ConcentratIR2TM は分光器試料室のパージ状態を維持しながら、試料交換をすばやく行えます。一般的な1回反射型ATRに比べて10～11倍の高感度な測定が可能です。
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角度可変グレージングATR VariGATRTM
(Harrick Scienific)
VariGATRTMは従来品のGATRを更に使いやすくブラッシュアップしました。
入射角60°～65°可変で半導体材料表面の単分子膜、金属 板上の薄膜、高分子材料の最表面を高感度で測定します。
試料により入射角を変えることで最適な条件で測定が可能です。
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拡散反射測定アクセサリ、加熱拡散反射
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拡散反射測定装置 “セレクター” （Selector）
拡散反射ミラーは、試料により拡散、散乱される赤外光を集光します。Specacセレクターは、軸外しの光学系を採用し、正反射成分を最小限に押さえ拡散反射成分だけを選択的に集光できるよう最適化されています。多様なサンプリング用途として、φ11mmの標準試料カップ、φ4mmのミクロ試料カップ、および傾斜試料カップが標準で付属します。傾斜試料カップは表面が鏡のように全反射するような試料からの正反射成分と拡散反射成分を合わせた全体の反射光を測定するよう考慮しています。更に、非常に硬い試料などサンプリングの難しい試料ではダイヤモンドブレーズを用い試料表面を研摩採取した後、試料の付着したダイヤブレーズで拡散反射測定を行います。φ12mmのダイヤブレーズは、硬い強固な試料を迅速、容易にサンプリングする事ができます。
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環境チャンバー（加熱拡散反射） （Enviromental Chamber）
このアクセサリは固体試料の拡散反射測定を室温～800℃、10-3Torrの真空から最高500p.s.i（3.4MPa）の高圧環境下での測定が可能です。チャンバーの窓材は機械的強度、赤外透過率を考慮しZnSeを標準としています。オプションでその他の窓材についても可能です。ボディはSUS316で構築され耐久性と耐薬品性に優れています。安全対策として低電圧供給電源の使用と温度センサーによるオーバーヒート時の自動遮断機構を内蔵しています。
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MinidiffTM Plus （ミニディフ プラス）
ミニディフ プラスはルーチンでの拡散反射測定のサンプリングとして理想的なアクセサリです。最小限の光学系アラインメントだけで固体試料の高性能拡散反射測定が可能です。標準付属の試料カップとダイヤブレーズサンプリングパッドにより固体試料の多彩なサンプリングを可能にします。試料カップを最高3個まで保持できる試料導入方式は試料がこぼれたりするリスクを低減させます。ベンチマークベースプレートでのマウントは安定性と光学的な位置再現性を提供します。
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角度可変反射、高感度反射測定、角度固定10°反射、角度固定30°反射
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モノレイヤー/グレージング アングル 反射測定アクセサリ
モノレイヤー/グレージング アングル 反射測定アクセサリはFT-IRでの気液界面単分子膜のその場観察（in-situ）とグレージングアングルによる固体基板上の薄膜を高感度に測定する二つの目的を兼ね備えています。この試料ステージは測定目的により容易に交換がで可能です。入射角8°～85°までの範囲を殆どのFT-IRで迷光なく対応します。アパーチャー絞りはグレージング角付近における試料上のビーム位置を再定義するために用い、性能強化を提供しています。試料上面部から光照射が可能なオープンな構造です。加熱冷却ステージのオプションも用意されています。
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入射角30°スペキュラー反射測定アクセサリ
スペキュラー反射測定法は鏡のような光沢のある試料や半光沢試料の表面を非破壊で測定できます。スペキューラー反射は入射角と反射角が等しい角度での反射測定となります。試料からの反射される赤外線の量は入射角、屈折率、表面の粗さ、吸収特性に依存します。角度固定スペキュラー反射測定アクセサリは入射角30°の固定された角度で固体試料の表面反射赤外分光測定を行います。試料の測定面は下向きにセットされるので、液体やガム状試料は保持する事ができません。有機溶媒などで溶解した試料を平坦な金属板に塗布、乾燥後に測定するキャストフイルム法により微量抽出物の測定ができます。
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多目的角度可変反射測定アクセサリ シーガル（The
SeagullTM Harrick Scienific）
シーガルは1台で多種類の反射測定が行える多目的の角度可変反射測定アクセサリです。角度可変ATR、角度可変反射、高感度反射、角度可変偏光ATR、液体ATR、角度可変紛体反射、加熱ATR、加熱反射、SEIRASなど様々は反射測定に応用できるユニークなアクセサリです。
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高感度反射測定アクセサリ The Refractor2TM
(Harrick Scienific)
赤外偏光子を内蔵していますので、外部には偏光子が不要です。試料に入射する赤外光はくさび型のZnSeウィンドウを屈折しながら通過し、Si基板にブリュースター角で入ります。入射角は75°固定で、Si基板を通過する赤外光はp偏光のみとなり、試料に入射し、高感度反射測定が可能となります。光学系はパージチューブにより外気を遮断できますので、CO2やH2Oの影響を低減させます。
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入射角10°正反射率測定アクセサリ
(Pike Technologies)
一般的な正反射率測定アクセサリでは測定試料面で焦点を結ぶ光学設計であり、カタログなどに記載の入射角はビームの中心を入射角としています。10Spec正反射率測定アクセサリは試料測定面へ平行光束で照明され、試料測定面の反射率を高精度で測定する様に最適化された設計です。
JIS R3106 板ガラス類の透過率・反射率・放射率・日射熱取得率の試験方法
で分光反射率測定で15°を超えない入射角に適合します。
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角度可変反射測定アクセサリ (Harrick Scienific)
この角度可変反射測定アクセサリは金属板上のコーティング、薄膜、コンタミなどの反射測定、高分子フィルム、成形品等の鏡面光沢度の測定が行え、更に試料を水平にセット可能な入射角12°における絶対反射率測定（VW方式）など幅広い応用が可能です。
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加熱高感度反射測定、加熱ステージ
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加熱高感度反射測定アクセサリ THE REFRACTOR REACTOR
(Harrick Scienific)
高感度反射測定アクセサリ”Refractor2”の基本光学系を継承した”THE
REFRACTOR REACTOR”は、金属基板上の薄膜や金属表面での高感度反射測定を加熱、加圧、減圧下で行うことが出来るチャンバーです。反応ガスによる試料表面の変化や金型などで使用される離型剤の挙動などをin-situで観測や研究等でご利用頂けます。FT-IRの試料室にセット出来るコンパクトサイズで、特別な光学系は不要です。
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CRIC in-situ 触媒反応赤外測定装置
FT-IRの試料室に設置し、粉体や基板の反射測定を高感度に行う為の加熱
in-situ セルです。ガスを導入し、触媒反応のシミュレーションを行うことが出来ます。特に、触媒反応用にセル内は全て耐腐食性材料を使用しています。また、ガスは粉体試料等と良く接触するよう配慮された設計です。光学系は、セル上部より紫外・可視光等を容易に照射できる構造で、光触媒の評価、開発、研究に貢献します。赤外光の入出射角度も30°～60°まで可変で、入出射ミラーは独立可変です。
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加熱・冷却ステージ （透過・反射測定用）
温度範囲によりペルチェ素子加熱冷却ステージまたは抵抗線による加熱ステージを選択できます。ペルチェ冷却タイプは－40℃～100℃または0℃～140℃、抵抗線タイプは室温～300℃迄可能です。角度可変反射測定アクセサリによりステージをカスタムメイドします。加熱プレートはZステージから取り外し可能なモデルもあり、分光器試料室での加熱透過測定や顕微ステージにでの測定が可能になります。
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Pike Technologies社製アクセサリの分光器コードリスト（P/NのXX）は右のPDFアイコンをクリックし、ご参照下さい。
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HARRICK SCIENTIFIC PRODUCTS社製アクセサリの分光器コードリスト（P/NのXXX）は右のPDFアイコンをクリックし、ご参照下さい
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カタログ、価格表、お見積、デモ測定、試用などのご希望がございましたら下記問い合わせボタンからご照会下さい。
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株式会社テクノサイエンス
TEL：043-206-0155 FAX：043-206-0188 〒264-0034 千葉市若葉区原町929-8
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